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本发明公开了一种用于AI手机芯片的基准测试系统及其工作流程，包括芯片检测模块、加载模块和测试模块，芯片检测模块，用于检测手机终端搭载的芯片类型；加载模块，用于根据手机终端的芯片下载特定芯片支持结构的模型文件以及数据集文件，测试模块，用于在手...
该专利属于广州优亿信息科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广州优亿信息科技有限公司授权不得商用。

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