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本发明公开一种分时数据合成的共形阵列测试方法，包括步骤；对天线中的各个体单元、多通道开关的各端口进行编号；测试各所述开关电缆链路的不一致性并保存不一致性的测试数据；将所述端口通过所述电缆与对应编号的所述个体单元连接，设置平面近场测试参数，并...
该专利属于中国电子科技集团公司第三十八研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第三十八研究所授权不得商用。

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