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本发明公开了一种基于MEMS光纤微电流传感技术的绝缘子劣化及污秽检测方法,其采用MEMS光纤微电流传感器构建污秽劣化绝缘子检测系统,通过检测绝缘子串微电流特征判断绝缘子运行状态信息;具体判断方法为:当检测的绝缘子串中通过的微电流基本不发生变...该专利属于中科伟博(苏州)智能科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中科伟博(苏州)智能科技有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种基于MEMS光纤微电流传感技术的绝缘子劣化及污秽检测方法,其采用MEMS光纤微电流传感器构建污秽劣化绝缘子检测系统,通过检测绝缘子串微电流特征判断绝缘子运行状态信息;具体判断方法为:当检测的绝缘子串中通过的微电流基本不发生变...