下载基于深度包解析的面向综合电子系统的异常检测方法的技术资料

文档序号:20369849

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本发明公开了一种基于深度包解析的面向综合电子系统的异常检测方法,该方法包括:收集总线数据:监听并收集总线传输数据包;提取周期性数据包特征:在收集的周期性数据包中提取内容变化的特征值;生成多个决策树:根据提取所得的特征值集合,对不同子系统下的...
该专利属于华东师范大学;中国空间技术研究院所有,仅供学习研究参考,未经过华东师范大学;中国空间技术研究院授权不得商用。

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