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本发明公开了一种磁控管自然贮存寿命预测方法，包括以下步骤：确定磁控管的自然贮存寿命特征参数；确定所述寿命特征参数中退化较快的寿命特征参数；对所述退化较快的寿命特征参数的退化数据组成的序列建立磁控管寿命预测模型；检验所述寿命预测模型的预测精度...该专利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））授权不得商用。