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一种TR组件幅相特性快速微波测试系统技术方案
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文档序号:20284805
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本发明提供一种TR组件幅相特性快速微波测试系统,采用变频器将TR组件的射频信号频率降低到中频,幅度检波和相位检波均在中频完成;包括:TR组件指令控制系统,矩阵开关系统,变频、中频检波以及采样电路,上位机和以太网通信控制系统,上位机控制系统工...
该专利属于广东圣大电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过广东圣大电子有限公司授权不得商用。
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