温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本公开提供一种处理测量配置及回报的装置及方法。在一实施例中，一种第一基站，用来处理一测量配置及一回报，包含有至少一存储装置；以及至少一处理电路，耦接于该至少一存储装置。该至少一存储装置用来存储，以及该至少一处理电路被配置来执行存储于该至少一...
该专利属于宏达国际电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过宏达国际电子股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。