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一种芯片版图的检测方法及装置、计算机可读介质、终端。所述方法包括：对待检测芯片的版图进行碎片化处理，得到所述待检测芯片的版图中的所有图形，所述待检测芯片为两个以上；将所述待检测芯片的版图中的所有图形分别进行二进制转化，得到所述待检测芯片对应...该专利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司授权不得商用。