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本发明涉及一种能够支持在低温环境下测试电子部件的用于测试电子部件的分选机。根据本发明的用于测试电子部件的分选机构成环境维持腔室，并将环境维持腔室维持在干燥状态，从而具有能够局部冷却的结构。根据本发明具有如下效果，可以提高对电子部件的测试可靠...
该专利属于泰克元有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过泰克元有限公司授权不得商用。

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