下载基于表面电磁波共振的高性能CMOS 红外微测辐射热计的技术资料

文档序号:20239826

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本发明公开了一种基于表面电磁波共振的高性能CMOS红外微测辐射热计。该微测辐射热计包括L形微桥结构,微桥结构单元包括桥墩、桥臂和红外吸收体,红外吸收体为多层结构,自上而下依次为氮化硅层、金属光栅层、二氧化硅层、蛇形铝热敏电阻层和二氧化硅层。...
该专利属于南京大学所有,仅供学习研究参考,未经过南京大学授权不得商用。

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