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本发明公开了一种极片电阻测量仪、系统及方法，该极片电阻测量仪包括:控制箱；设置于所述控制箱上的底座；设置于所述底座上的下压头；安装于所述底座上的施压装置，所述施压装置具有与所述下压头相对设置的上压头，以通过所述上压头对放置于所述下压头上的待...
该专利属于元能科技（厦门）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过元能科技（厦门）有限公司授权不得商用。

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