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本发明公开了一种片上存储器的调试装置和方法,包括输入控制单元、寄存器单元、控制单元和译码单元,其中,输入控制单元用于接收并解析外部输入的调试控制信息,将所述解析后的调试控制信息存储至寄存器单元;控制单元用于从所述寄存器单元获取所述解析后的调...该专利属于深圳市中兴微电子技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市中兴微电子技术有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种片上存储器的调试装置和方法,包括输入控制单元、寄存器单元、控制单元和译码单元,其中,输入控制单元用于接收并解析外部输入的调试控制信息,将所述解析后的调试控制信息存储至寄存器单元;控制单元用于从所述寄存器单元获取所述解析后的调...