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图像放大率测量方法及装置制造方法及图纸
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文档序号:20120823
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本申请公开一种图像放大率测量方法及装置,首先在输入的图像上截取出两条待检测边线的区域,利用图像处理算法处理区域,获得边线的像素坐标集,去掉离散像素点,然后初步评估边线的斜率,判断斜率,如果斜率的绝对值处于预设范围内,则按直线的一般式方程对像...
该专利属于深圳华大智造科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳华大智造科技有限公司授权不得商用。
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