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本发明公开了一种用于动态随机存取存储器使用RAID做纠错校验的方法，包括以下步骤：主控内部的随机内存控制单元，不配置额外的校验位储存用内存组件，随机内存控制单元所控制的校验位产生与写入随机内存；主控内部的随机内存控制单元在内存控制物理层通过...
该专利属于江苏华存电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏华存电子科技有限公司授权不得商用。

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