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一种基于外部噪声注入的毫米波干涉式综合孔径成像系统快速校准方法技术方案
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下载一种基于外部噪声注入的毫米波干涉式综合孔径成像系统快速校准方法的技术资料
文档序号:20073233
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本发明提供一种基于外部噪声注入的毫米波干涉式综合孔径成像系统快速校准方法,包括:基于外部点辐射噪声源,校准毫米波干涉式综合孔径成像系统中互相关值测量的相位一致性误差;基于面噪声源的温度差异实现毫米波干涉式综合孔径成像系统中自相关值的幅度一致...
该专利属于北京航空航天大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京航空航天大学授权不得商用。
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