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本发明公开了一种半导体开关触发保护试验的测试电路及测试方法。本发明利用变流器逆变触发外旁通为负载电流提供续流回路，待外旁通承受负载电流的时间满足要求后，再令变流器重新工作于整流模式，变流器的输出电流逐渐增大,旁通电流逐渐下降,负载电流再由外...
该专利属于中国科学院合肥物质科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院合肥物质科学研究院授权不得商用。

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