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本发明涉及光学检测系统领域，尤其是椭球型单毛细管X光透镜内表面形貌检测系统。该检测系统包括X射线光源、锥形光束、遮光器、中心阻挡器、椭球型单毛细管X光透镜、焦斑和CCD，所述X射线光源位于椭球型单毛细管X光透镜的前焦点处，遮光器和中心阻挡器...
该专利属于北京市辐射中心;北京师范大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京市辐射中心;北京师范大学授权不得商用。

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