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本发明提供的一种用于S698‑T芯片MFIO模块、SRAM模块的ATE测试方法，能够及时发现S698‑T芯片SRAM的异常现象，所述测试方法可以全面验证S698‑T芯片SRAM的功能特性，包括读写数据功能验证、直流参数验证和交流参数验证。基...
该专利属于珠海欧比特宇航科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过珠海欧比特宇航科技股份有限公司授权不得商用。

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