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一种侦测装置，应用于光源模组，所述光源模组包括发光源；所述侦测装置包括：光折射结构，包括基板、形成于所述基板上的导电层和折射层，所述导电层具有电阻；以及电阻侦测电路，与所述导电层电性连接，用于检测所述导电层的电阻，并根据所述电阻的变化生成检...该专利属于业成科技（成都）有限公司;业成光电（深圳）有限公司;英特盛科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过业成科技（成都）有限公司;业成光电（深圳）有限公司;英特盛科技股份有限公司授权不得商用。