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本发明公开了一种新型基于开关电容的采样技术，与传统的采样技术相比，该发明通过额外增加一个采样阶段的电容，大幅度降低采样过程中由于开关电阻引入的热噪声，该热噪声往往是电路精度的瓶颈，另一方面，该额外引入的采样电容并不会对开关电容的积分阶段产生...
该专利属于上海卓弘微系统科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海卓弘微系统科技有限公司授权不得商用。

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