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一种基于半监督学习的晶圆图批量分析方法技术
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文档序号:20004799
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本发明公开了一种基于半监督学习的晶圆图批量分析方法,该方法包括以下步骤:对晶圆图进行预处理;对预处理后的晶圆图进行筛选;使用有标签及无标签晶圆图训练半监督模型;筛选无标签晶圆图优化半监督模型;进行晶圆图分析。本发明能够利用少量有标签晶圆图建...
该专利属于浙江大学所有,仅供学习研究参考,未经过浙江大学授权不得商用。
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