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北京市遥感信息研究所
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基于高斯概率统计的数据几何定位精度评估方法及装置制造方法及图纸
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下载基于高斯概率统计的数据几何定位精度评估方法及装置的技术资料
文档序号:20004782
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本发明实施例提供了一种基于高斯概率统计的数据几何定位精度评估方法及装置,该方法包括:对已知几何定位精度数据B和待估计几何定位精度数据C进行同名点采样,形成对应的数据集...
该专利属于北京市遥感信息研究所所有,仅供学习研究参考,未经过北京市遥感信息研究所授权不得商用。
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