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光检测元件制造技术
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文档序号:19968104
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本发明涉及光检测元件。基于本申请的某实施方式的光检测元件具备:光电转换结构,其含有对于单晶硅显示吸收的波长区域中包含的第1波长的光具有比单晶硅高的吸收系数的第1材料,且通过吸收光子而生成正及负的电荷;和雪崩结构,其包含通过由上述光电转换结构...
该专利属于松下知识产权经营株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过松下知识产权经营株式会社授权不得商用。
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