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本发明涉及材料科学领域，一种薄膜样品的力学性质测量方法，将透镜探针切换到探头的探针位I；控制微驱动器使得透镜探针移动至刚好接触样品表面；显微镜物镜实时记录样品图像；法向力测量：控制微驱动器使得透镜探针继续向样品表面施加压力，记录反射镜I和反...
该专利属于金华职业技术学院所有，仅供学习研究参考，未经过金华职业技术学院授权不得商用。

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