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本发明属于复杂曲面接触式测量的领域，并公开了一种自适应采样的复杂曲面接触式测量方法。该方法包括：(a)设定测针与待测工件表面接触的期望接触力和扫描速度，开始扫描并获得多个采样点；(b)分别测量每个采样点沿测针方向和垂直于测针方向实际接触力的...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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