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一种光谱测定系统可以包括具有第一标准具和第二标准具的标准具阵列。所述第一标准具可以被配置为对光进行处理，从而至少生成第一透射图案。所述第一透射图案可以至少具有对应于所述光的原始光谱内的第一波长的第一透射峰。所述第二标准具可以被配置为对光进行...
该专利属于加利福尼亚大学董事会所有，仅供学习研究参考，未经过加利福尼亚大学董事会授权不得商用。

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