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本申请公开了一种过采样处理方法。该过采样处理方法包括：获取少数类样本集合；根据邻域粗糙集算法将所述少数类样本集合划分成少数类边界区和少数类正域；以及在所述少数类边界区和所述少数类正域之间进行插值，生成合成样本。本申请基于邻域粗糙集对于少数类...
该专利属于北京中科天合科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京中科天合科技有限公司授权不得商用。

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