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本发明涉及一种用于测量薄膜材料相变温度的装置，包括衬底、电极、红外温度探测器、激光光源、多普勒探测器、飞秒脉冲激光光源；衬底用于铺设待测薄膜，电极置于待测薄膜上，红外温度探测器监测待测薄膜的温度；激光光源向待测薄膜表面斜射探测光，飞秒脉冲激...
该专利属于武汉嘉仪通科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉嘉仪通科技有限公司授权不得商用。

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