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本发明涉及一种基于连续调制激光照射的复合绝缘子老化程度检测方法，所述方法采用连续调制激光束照射在复合绝缘子表面，在计算机控制激光束调制频率变化过程中，采用红外探测器探测复合绝缘子表面红外辐射信号随调制频率变化情况。根据红外辐射信号的频域变化...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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