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用于测试待测设备的测试系统包括：信号处理器，其配置为产生多个独立信号，并且将第一衰落通道特性应用于每个独立信号以产生多个第一衰落测试信号；测试系统接口，其配置为将所述多个第一衰落测试信号提供给待测设备(DUT)的一个或多个信号输入接口；第二...
该专利属于是德科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过是德科技股份有限公司授权不得商用。

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