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本申请公开一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法及装置，分别采集OLED屏的高灰阶图像和灰尘图像，再根据高灰阶图像和灰尘图像，将OLED屏上的灰尘区域截取出来，并提取灰尘区域的像素及每一个像素的坐标，最后根据灰尘区域的像素及坐标，对OLE...
该专利属于凌云光技术集团有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过凌云光技术集团有限责任公司授权不得商用。

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