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本申请提供一种量测方法，包括：在第一条件下，量测第一点的背光亮度L0A和面板亮度L1A，量测第二点的背光亮度L0B和面板亮度L1B；在第二条件下，量测第一点的背光亮度L0'A和面板亮度L1'A；在第三条件下，量测第二点的背光亮度L0'B和面...该专利属于惠科股份有限公司;重庆惠科金渝光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过惠科股份有限公司;重庆惠科金渝光电科技有限公司授权不得商用。