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基于光热快速升温的磁悬浮热天平测量方法技术
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文档序号:19686577
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本发明公开了一种基于光热快速升温的磁悬浮热天平测量方法,包括如下步骤:1)称取测量物料到反应池内;2)将反应池随磁悬浮浮子一起放到密闭容器内;3)通过磁悬浮装置使磁悬浮浮子悬浮在密闭容器中;4)向密闭容器内通入气体;5)通过激光位移监测组件...
该专利属于华中科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过华中科技大学授权不得商用。
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