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本发明公开了一种基于OFDR的硅光芯片温度测量装置及方法，其中装置包括线性扫频激光器、光纤分束器、光纤环形器、硅光芯片、模斑变换器、光纤耦合器、光电探测器、数据采集卡和计算机。本发明的测量方法基于光频域反射技术，将待测硅光芯片本身作为传感器...
该专利属于武汉隽龙科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉隽龙科技股份有限公司授权不得商用。

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