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本发明公开了一种用于校准的5G阵列天线非线性点测量方法，包括以下步骤：S1.建立测量模型；S2.调整天线阵列的初始相位，并使阵列总场强度大于每个天线单元场强度的两倍；S3.激励阵列天线的所有天线单元，测量得到阵列信号功率；S4.对于各个天线...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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