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本发明提供了一种测量二维纳米材料弯曲刚度的方法，所述方法包括：(1)将二维纳米材料转移到具有圆孔阵列的基底材料表面，覆盖在圆孔上形成密闭环境，形成待测样品系统；(2)将待测样品系统进行鼓泡实验，形成鼓泡，得到鼓泡内外压力差△p；(3)对形成...
该专利属于国家纳米科学中心所有，仅供学习研究参考，未经过国家纳米科学中心授权不得商用。

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