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本发明提出一种提高光电跟踪系统中脱靶量延时测量精度的方法，解决了现有运动相移法要求跟踪机构正弦运动周期大于延时时长的限制，同时提高了脱靶量延时的测量精度。该方法首先将模拟目标置于光电跟踪系统的视场中，调节其位置使光电跟踪系统的相机能清晰成像...
该专利属于中国科学院西安光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院西安光学精密机械研究所授权不得商用。

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