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本发明属于雷达天线技术领域，具体是一种基于最佳拟合的双反射面天线形面实时调整方法，本发明将激光测量设备安装于副反射面背面，从副反射面位置测量主反射面面形，在实现主反射面面形检测的同时实现副反射面的位姿匹配，可适用于非主动主反射面天线和主动主...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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