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一种电光调制双光梳形貌测量装置及其校验方法，所述电光调制双光梳形貌测量装置包括：电光调制双光梳生成模块，用于生成中心频率和重复频率不同的光学频率梳；多外差一维测距模块，用于测量被测物在其出射激光方向上的一维距离信息；二维运动模块，用于带动被...
该专利属于天津大学所有，仅供学习研究参考，未经过天津大学授权不得商用。

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