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本发明提供的基带芯片性能评估方法及装置，通过获取处于移动状态的基带芯片在预设模式下输出的各时刻的第一定位信息和第一测速信息，以及处于移动状态的测试设备输出的各时刻的第二定位信息和第二测速信息，得到基带芯片在各时刻的动态定位误差以及测速误差，...
该专利属于交通运输部水运科学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过交通运输部水运科学研究所授权不得商用。

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