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本公开涉及具有用于自隔离掩埋层的偏置结构的半导体器件及其方法。本发明公开了一种半导体器件,所述半导体器件包括浮动掩埋掺杂区域、设置在所述浮动掩埋掺杂区域与第一主表面之间的第一掺杂区域、以及设置在所述浮动掩埋掺杂区域与第二主表面之间的半导体区...该专利属于半导体元件工业有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过半导体元件工业有限责任公司授权不得商用。
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