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一种基于透射式全介质超表面的偏振复用全息成像方法技术
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下载一种基于透射式全介质超表面的偏振复用全息成像方法的技术资料
文档序号:19423855
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本发明属于微纳光学、偏振光学以及光学全息技术领域,公开了一种基于透射式全介质超表面的偏振复用全息成像方法,确定响应的主波长λ;确定单元结构的几何参数;采用GS相位恢复算法,得到对主波长响应的单元结构的相位分布;采用达曼光栅的方法把每个基元的...
该专利属于中国科学院大学所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院大学授权不得商用。
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