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三维干涉仪和用于确定电场相位的方法技术
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文档序号:19395791
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本发明涉及一种用于测量由物体(110)产生的光场的三维干涉仪(100),具有:第一干涉仪臂(150),第二干涉仪臂(152),安排在一方面所述物体(110)的物点(112)与另一方面所述第一干涉仪臂(150)和第二干涉仪臂(152)之间的分...
该专利属于马丁·贝尔茨所有,仅供学习研究参考,未经过马丁·贝尔茨授权不得商用。
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