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本申请涉及一种测试治具及装置，该测试治具包括基座和多个挡板，挡板的贴合面贴合在基座的一侧面，基座的上表面靠近挡板的边缘处设有多个测试工位；贴合面的高度大于侧面的高度，进而形成凸缘，以使待测芯片快速定位至测试工位。通过上述技术方案，本申请可以...
该专利属于深圳瑞波光电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳瑞波光电子有限公司授权不得商用。

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