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本发明提供了一种验证平台、方法及电子设备，涉及芯片验证技术领域，包括：采样模块、参考模型、对比模块和多个外部接口驱动模块；每个外部接口驱动模块向待测设计DUT中与外部接口驱动模块连接的外部接口发送测试激励，使外部接口将测试激励发送给与外部接...该专利属于天津芯海创科技有限公司;天津市滨海新区信息技术创新中心所有，仅供学习研究参考，未经过天津芯海创科技有限公司;天津市滨海新区信息技术创新中心授权不得商用。