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用于栅极高度控制及无空洞RMG填充的集成方案制造技术
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下载用于栅极高度控制及无空洞RMG填充的集成方案的技术资料
文档序号:19324303
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本发明涉及用于栅极高度控制及无空洞RMG填充的集成方案,提供通过斜切控制不同栅极宽度上的NFET及PFET栅极高度的方法及所得装置。实施例包括在鳍片上方形成ILD(层间介电质);在该ILD中形成空腔,其分别具有相似或不同的宽度;在该ILD上...
该专利属于格芯公司所有,仅供学习研究参考,未经过格芯公司授权不得商用。
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