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本发明公布一种分焦平面偏振成像测量方法与装置，可解决传统频域处理法无法获取被测场景完整的偏振状态导致存在误差的技术问题。包括将微波片阵列、偏振片、图像传感器依次紧贴设置，所述微波片阵列的微波片与图像传感器的像素一一对应；通过图像传感器进行测...
该专利属于合肥工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过合肥工业大学授权不得商用。

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