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本发明涉及一种基于光学光谱的超声位移差异成像方法，其特征在于，包括以下步骤：超声探头照射样品后，得到加热前超声成像图；由连续激光器加热样品；加热结束后，得到加热后超声成像图；根据时间延迟得到加热前后样品的温度变化，由此得到加热前后超声成像的...
该专利属于上海科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海科技大学授权不得商用。

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