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本实用新型提供一种磁瓦表面微缺陷视觉检测装置，被用于检测磁瓦，包括正面检测装置一、正面检测装置二、反面检测装置和透明的转盘，正面检测装置一和正面检测装置二位于转盘正上方，反面检测装置位于转盘正下方，正面检测装置一包括一个相机一和两个条形光源...
该专利属于浙江理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江理工大学授权不得商用。

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