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本实用新型涉及材料分析测试技术领域，尤其涉及透射电子显微镜配件及低维材料原位测量研究领域。本实用新型解决透射电子显微镜用原位样品杆不能实现低温区精确控温的技术问题，提供一种透射电子显微镜用原位样品杆，该样品杆包括样品杆杆身、密封测试腔室、被...
该专利属于关一;王忠良所有，仅供学习研究参考，未经过关一;王忠良授权不得商用。

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